廣東東莞有色金屬物理檢測設備

表盤式電動布洛維硬度計 120     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的LJ-972表盤式電動布洛維硬度計，是一款集布氏、洛氏、維氏三大硬度測試功能于一體的機電一體化設備，采用高精度機械傳動與表盤顯示技術，適用于金屬材料及部分非金屬材料的硬度快速檢測，廣泛應用于制造業、質檢機構及科研領域。

高精度數顯洛氏硬度計 123     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的LJ-150高精度數顯洛氏硬度計，是一款基于國際標準設計的機電一體化硬度測試儀器，以精準、智能、高效為核心優勢，廣泛應用于金屬材料及非金屬制品的硬度檢測領域。

激光平面度測量儀 164     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的激光平面度測量儀，是一款基于掠入射光干涉原理的高精度非接觸式檢測設備，可實現微米級平面度評估，廣泛應用于精密制造領域。

三箱式冷熱沖擊試驗箱 389     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的LJ-120A三箱式冷熱沖擊試驗箱，是一款專為評估材料及產品在極端溫度快速變化下的耐受性而設計的高端環境模擬設備，廣泛應用于電子、汽車、航空航天等領域，助力企業驗證產品可靠性，縮短研發周期。

高效恒溫恒濕試驗箱 154     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的高效恒溫恒濕試驗箱，是一款集溫度、濕度控制于一體的環境模擬設備，可精準復現極端溫濕度條件，廣泛應用于電子、汽車、新能源等領域的可靠性測試，助力企業加速產品環境適應性驗證。

高精度里氏硬度計 168     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的LJ-HL290高精度里氏硬度計，是一款融合瑞士里氏硬度測試原理與工業級設計的便攜式檢測設備，適用于金屬材料硬度快速評估，廣泛應用于機械制造、汽車工程、航空航天等領域。

冷熱沖擊試驗箱（二箱式） 297     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的冷熱沖擊試驗箱（二箱式）LJ-120A，是一款專為模擬極端溫度快速變化環境設計的高精度設備，廣泛應用于電子、汽車、軍工等領域，助力企業評估產品在極端溫度條件下的可靠性及耐久性。

自動轉塔大屏幕數顯維氏硬度計 152     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的自動轉塔大屏幕數顯維氏硬度計LJ-10M，是一款集高精度、智能化于一體的金屬材料硬度測試設備，廣泛應用于科研、質檢及工業生產領域，助力企業精準評估材料性能。

高低溫交變濕熱試驗機 194     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的高低溫交變濕熱試驗機LJ-100，是一款集溫度、濕度環境模擬于一體的精密試驗設備，可精準實現-40℃至+150℃溫度范圍與10%RH至98%RH濕度范圍的交變控制，廣泛應用于電子、汽車、新能源等領域，助力企業評估產品在復雜環境下的可靠性及耐久性。

全自動檢測儀 140     

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東莞市力堅試驗設備有限公司推出的LJ-CNC-3020全自動檢測儀，是一款基于高精度光學影像測量與數控運動控制技術的高端檢測設備，專為精密制造、電子元器件及材料研發領域設計，助力企業實現質量檢測的自動化與智能化升級。

自動測量光學膜厚儀 165     

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F54-XYT-300 薄膜厚度測量儀采用光譜反射技術，能夠高效測量最大200x200mm樣品的薄膜厚度，具備電動XY工作臺與多種預設及自定義測量坐標圖案功能。其配備顯微鏡和實時攝像頭，支持圖案表面顯微測量，適用于較粗糙材料。內置測繪圖案生成器的FILMAPPER軟件進一步提升了測量自動化水平。

探針式表面輪廓儀 171     

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KLA D600 探針式表面輪廓儀包括一個200mm自動樣品載臺和具有增強圖像控制的光學器件。Alpha-Step輪廓儀體積小巧，專為高校、實驗室和研究所設計，可為半導體和化合物半導體器件、LED、太陽能、MEMS、汽車和醫療行業提供臺階高度、粗糙度和應力測量。

橢圓偏振光譜儀 172     

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HORIBA UVISEL Plus 相位調制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設備，數據處理和高速單色儀，Fastacq技術能夠為用戶提供高分辨及快速的數據采集。FastAcq為薄膜表征特殊設計，雙調制技術使您可以獲得完整的測試結果。

高精度鍍層測量系統 266     

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Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。

高精度鍍層測量系統 257     

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BowmanK系列XRF高精度鍍層測量系統在高度不超過9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測量區域。自動多準直器允許選擇光斑尺寸，以適應各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內進行測量。伺服電機驅動的可編程平臺可實現快速、準確的可編程樣品定位。

激光粒徑分布分析儀 254     

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HORIBA LA-960V2激光粒徑分析儀是一種用于測量顆粒粒徑分布的儀器，基于激光衍射原理。其測量范圍覆蓋10納米至5000微米，并具備干法和濕法兩種進樣方式，可有效避免液體分散劑對樣品的影響。

離心式納米粒度分析儀 251     

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顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的，這是離心分離法的關鍵特點。因此，一次測量就能得到寬范圍內的精度結果。HORIBA CN-300 離心式納米粒度分析儀可提供兩種測量方法:密度梯度模式和均一模式。

激光粒徑分布分析儀 162     

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HORIBA 推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過簡單操作即可對納米顆粒進行多參數分析！以技術簡單而精確地呈現納米粒子尺寸及分散體系的穩定性，為您開啟納米科技前進之門！

光學膜厚測量儀 166     

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Filmetrics F3-CS是一款專為微小視野及樣品設計的薄膜厚度測量儀，適合生產線操作人員和技術人員使用。具備自動基準校正功能，簡化了測量前的搭建和校準過程。用戶只需設定薄膜上下層信息即可進行測量，支持數百種膜層類型，并能處理透明和不透明基材。通過升級FILMeasure軟件，還可擴展反射率測試功能。該設備兼容多種操作系統，采用USB線實現電源供應及通信連接，提供全面的技術支持和服務。

薄膜厚度測量儀 166     

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使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

自動Mapping膜厚測量儀 156     

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Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。

橢圓偏振光譜儀 265     

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Auto SE是一款集成了液晶調制技術和反射式微光斑的全自動快速橢偏儀，具備高重復性和信噪比，適用于多種樣品的快速薄膜測量與質量控制。其一鍵式操作界面簡化了數據處理流程，同時提供自動MAPPING掃描功能以評估樣品鍍膜均勻性。該設備兼容200mm×200mm樣品臺，覆蓋450-1000nm光譜范圍，適合科研與工業生產中的非均勻及圖案化樣品測試需求。

白光干涉膜厚測量儀 262     

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Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數量限制之測量點.只需具備基本電腦技能，就可在數分鐘內自行建立配方。

薄膜厚度測量儀測厚儀 261     

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Filmetrics F80-C膜厚測量儀采用厚度成像技術，提供快速、準確且經濟的薄膜厚度測量解決方案。該設備無需復雜的移動硬件，能在29秒內完成300毫米晶片的21點掃描，適用于化學機械拋光、化學氣相沉積等多種工藝。其自動化和直觀的操作界面減少了人為錯誤，降低了成本，是晶片追蹤工藝工程師的理想選擇。

光學膜厚測量儀 155     

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美國Filmetrics公司的F60-C光學膜厚測量儀采用r-θ極坐標移動平臺，能快速準確地測量各種晶圓尺寸上的薄膜厚度和光學常數n&k，適用于多種材料如氧化硅、氮化硅等。該設備支持自定義測試點，并能在短時間內完成大面積分布圖測量，提供便捷的在線演示與技術支持服務。

薄膜厚度測量儀 156     

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F10-RT 薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜，實現真空鍍膜的全面分析，具有成本低、操作簡便、分析功能強等特點。此外，它還提供可選模塊擴展功能，并配備完善的售后服務和技術支持。

單點光學膜厚測量儀 255     

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Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀是一款先進的膜厚測量系統，能夠測量從1nm到10mm的膜厚，并且可以同時測量折射率、反射率和穿透率。適用于單層或多層膜，無論是在平面還是彎曲表面，光斑最小可達20微米。F20具有模塊化設計，易于安裝和操作，通過USB連接電腦后，能在數秒內得出測量結果。其適用范圍廣泛，幾乎涵蓋了所有光滑、半透明或低吸收系數的薄膜材料，包括各種電介質、半導體材料等。該設備配備用戶友好的軟件界面，提供24小時電話、電子郵件和在線支持，確保用戶能夠高效準確地進行膜厚測量。

光學膜厚測量儀 253     

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Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀是一款結合顯微鏡的薄膜測量系統，能夠快速準確地測量薄膜的厚度和光學常數。該設備特別適用于需要在微小限定區域進行測量的應用，并且可以與市面上大多數顯微鏡連接使用。其優勢包括桌面式設計、24小時技術支持以及直觀的分析軟件等。適用于半導體制造、生物醫學原件、液晶顯示器等多個領域的薄膜厚度測量。

多波長橢偏儀 147     

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第四代FilmSense FS-8 多波長橢偏儀使用長壽命的LED光源和無移動部件的橢圓偏振探測器。在便攜的緊湊型系統中提供快速而可靠的薄膜測量。通過簡單的1秒測量，可以以很高的精度和準確度測定大多數透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并對樣品進行光學常數、n&k值等薄膜性質的測量。

桌上型主動式隔振臺 257     

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mini桌上型主動式隔振臺采用全新設計，具備全頻段出色的抗振動效果及六自由度主動減振功能。其LCD屏幕能顯示加速度波形和頻譜，并支持潔凈室環境使用。設備自帶自動調平與固定模式，且可通過USB接口進行數據傳輸和監控。適用于原子力顯微鏡、掃描探針顯微鏡等多種精密測量儀器。