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工作原理
MMI-50R通過光源發出光線，經聚光鏡聚焦至樣品表面，反射光攜帶樣品組織信息后，由物鏡收集并傳遞至棱鏡系統。無限遠光學設計確保光路可靈活擴展附件（如偏光片、濾光片），最終光線通過目鏡或攝像頭形成放大圖像。設備支持明場、暗場、偏光等多種觀察模式，可適應不同材質的透射與反射需求。
應用范圍
廣泛適用于冶金、機械制造、電子元件、地質勘探等領域，可完成金屬晶粒度評級、非金屬夾雜物分析、涂層厚度測量、相組成鑒定等任務，同時支持高校材料教學與科研機構的基礎研究，尤其適合需要頻繁更換樣品或觀察大尺寸試樣的場景。
產品技術參數
放大倍數：50X-1000X（連續可調，標配5X/10X/20X/50X物鏡）
物鏡類型：平場消色差物鏡（無限遠校正）
載物臺：Φ120mm旋轉載物臺，移動范圍50×50mm，帶刻度定位
光源：LED冷光源（亮度可調，壽命≥50000小時）
攝像頭：可選配500萬像素CMOS，支持USB3.0傳輸
觀察方式：雙目目鏡（視野數20mm）或三目分光（目鏡/攝像頭同步）
調焦機構：粗微同軸調焦，微調精度0.001mm
尺寸：450mm×380mm×600mm
重量：25kg
產品特點
倒置結構設計，樣品觀察面朝下，適配大型或不規則試樣
無限遠光學系統，支持偏光、暗場等附件擴展，滿足多場景需求
高精度電動載物臺（可選），支持X/Y軸精準定位與程序控制
智能光源控制系統，自動調節亮度避免樣品過熱或光損
配套專業圖像分析軟件，支持自動測量、報告生成與數據存儲
人體工學設計，可調目鏡間距與觀察角度，降低長時間操作疲勞
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
