上海有色金屬設備

高精度微納米壓痕儀 339     

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KLA公司全系列的力學測試產品均采用電磁驅動原理的加載力激發器， iMicro微納米壓痕儀。對納米壓痕物理模型和優線性特性的電磁力驅動原理的深刻理解，以及具有良好靈敏度的三片式電容傳感器的設計，保證全系列納米力學產品在整個量程范圍內均能得到高分辨的控制。1000mN載荷范圍，6nN加載精度，0.04nm位移精度。

高精度原子力顯微鏡 337     

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在SmartScanAuto有的智能模式下，系統自動執行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質量和掃描速度。這是通過Park的技術才得以實現的。它不僅可以為您節省時間和金錢，還可以給您帶來優質的研究結果。

電鏡原位多功能原子力顯微鏡 337     

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LiteScope?是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設計的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據客戶需求，定制并提供適當的適配器和反饋機制，很容易通過四個螺絲將LiteScope?固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器、電腦進行連接。LiteScope?通過可更換探針進行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。綜合分析包括：表面形貌表征、機械性能、電性能、磁性能。

單點膜厚測量儀 335     

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KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術實現薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實現如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導體膜、有機薄膜、導電透明薄膜等膜厚精確測量，被廣泛應用于半導體、微電子、生物醫學等領域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。

原位納米力學測試系統 227     

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Nano Indenter? G200系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 該系統還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應（應變率靈敏度）。 模塊化選項可適用于各種應用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N 和自定義測試。

原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統 336     

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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)經過30多年的發展后，從形貌測試及其它常規功能來看已經非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質原位測試分析的需求，尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。

原位TEM四自由度納米操縱樣品桿 336     

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透射電鏡多尺度、多視角（明、暗場像，電子衍射， 化學成分）的實驗分析能力，基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學實驗儀器，將為研究材料內部缺陷形成、演化行為提供實驗平臺。將三維納米操縱與360度旋轉耦合的三維重構樣品臺，是實現原子級三維重構提供設備支撐。將三維重構與原位光學、力學和電學等原位加載功能結合，實現對于三維結構演化的動態解析，無疑將對深化人類對于物質結構的認識提供支撐。

原位拉伸臺 334     

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Swift Tensile Stage原位拉伸臺是一款專為現代材料研究設計的多功能設備，適用于掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等多種顯微觀測系統。它支持EBSD、樣品加熱和冷卻，能夠實現“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多種模式，適用于薄膜及細絲力學實驗。該設備結構緊湊，兼容真空和電磁環境，采用超低速準靜態加載方式，便于在成像儀器下進行連續可視化原位監測，揭示載荷作用、材料變形損傷機制與微觀結構變化間的規律。

電鏡原位偏壓加熱系統 345     

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Norcada提供了廣泛的MEMS電偏壓和電化學芯片。Norcada還可以提供客戶定制的軟件包，包括用于基于 STXM的應用程序的支架和MEMS芯片。主要提供兩種基于MEMS技術的原位系統，使用同一個SEM樣品臺既可以實現不同的原位解決方案電學、加熱等不同應用。

光譜型橢偏儀 336     

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UVISEL光譜型相調制橢圓偏振儀(SPME)是一款的儀器，它采用光彈性晶體來調制偏振光，而不是傳統橢偏技術中的機械偏光裝置。

光學表面缺陷分析儀 337     

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Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測，其價格優勢使其成為適合于研發/小批量生產過程中品質管理及良率改善的有力工具。

陰極熒光成像光譜探測系統 334     

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陰極熒光成像光譜探測系統（Cathodoluminescence, CL）是一種高精度的分析工具，通常配置在掃描電鏡或透射電鏡中，能夠實現形貌觀察、結構和成分分析與陰極熒光光譜的結合研究，并支持全光譜熒光掃描成像。該系統利用高能量、小束斑的電子束激發樣品，具有高空間分辨率、高激發能量、寬光譜范圍和大激發深度等優點，特別適用于半導體材料與器件、熒光材料（如地質、考古材料）等的微觀分析。在微米、納米尺度的半導體量子點、量子線等熒光物質的研究中，陰極熒光技術能夠揭示發光性質及電子結構，具有重要的應用價值。

數字源表 337     

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PSS SMU S100型數字源表源表是高精度、大動態范圍、數字觸摸的率先國產化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，輸出電壓達300V，測試電流達100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。

薄膜沉積設備 330     

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Desk V鍍膜系統提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機選項，專為高分辨率顯微鏡樣品設計，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導電鍍膜，其熱蒸發選項可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

熱蒸發和樣品制備 343     

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BenchTop Turbo靈活、緊湊，可用于熱蒸發和樣品制備，是一種功能強大、用途廣泛的高真空蒸發和濺射系統。其能夠進行全范圍、低電壓（電阻）熱蒸發，且可以通過濺射生產細晶粒薄膜，用于高分辨率顯微鏡領域。

薄膜沉積-磁控濺射 342     

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如果實驗室空間是您關心的問題，緊湊、高真空Desktop Pro濺射系統生產能力大，而占用的桌面空間不到36英寸(914mm)。Desktop Pro可以提供共聚焦濺射以及磁性和/或介電材料的沉積。

熱蒸發薄膜沉積 337     

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DV-502 熱蒸發系統蒸發光學鍍膜、金屬化和電子顯微鏡樣品制備中涉及的許多金屬，且沒有可辯的污染。 DV-502還提供一系列配置的靈活性，以滿足您的需求，包括從鎢絲、金屬絲筐、箔船、擋板箱加熱器以及碳棒或紗線附件等多種來源蒸發。

電子束、磁控、熱蒸發 薄膜沉積 341     

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Explorer是多功能的高真空研發和中試生產平臺，其配置可為電子束(e-beam) 蒸發、電阻蒸發或磁控濺射。所有三種配置中均可選配離子輔助沉積功能。Explorer可在半手動模式下使用，也可升級到全自動模式，一鍵自動化操作，可以減少系統停機時間。

便攜式原子力顯微鏡 335     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。

化學機械拋光機 342     

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通過將產品固定在拋光頭的較下面，拋光時，旋轉的拋光頭以一定的壓力壓在旋轉的拋光墊上，拋光液在拋光墊的傳輸和離心力的作用下，均勻分布其上，在硅片和拋光墊之間形成一層拋光液液體薄膜。拋光液中的化學成分與產品表面材料產生化學反應，將不溶的物質轉化為易溶物質，或者將硬度高的物質進行軟化，然后通過磨粒的微機械摩擦作用將這些化學反應物從產品表面去除，溶入流動的液體中帶走，即在化學去膜和機械去膜的交替過程中實現平坦化的目的，通過先進的工藝可實現納米級別的粗糙度效果。

雙軸光電自準直儀 103     

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阜力牌雙軸光電自準直儀FLMAT2020是上海阜力測量設備有限公司自主研發的高精度角度測量儀器，集成雙軸光電檢測技術與智能數據處理系統，可同時測量X、Y兩個方向的角度偏差，適用于精密機械、光學儀器、計量檢測等領域，為導軌直線度、平面度、光軸平行度等形位公差提供高效、精準的測量解決方案。

2.5次元投影儀 103     

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萬豪2.5次元投影儀VMS-3020G是上海阜力測量設備有限公司代理的影像測量設備，結合光學投影與數字測量技術，通過非接觸式檢測實現二維輪廓尺寸的精密測量，適用于機械、電子、五金等行業的質量控制與研發驗證，為中小企業提供高效、經濟的二維測量解決方案。

數顯外徑千分尺 104     

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日本三豐數顯外徑千分尺293-240-30是三豐（Mitutoyo）品牌的經典精密測量工具，集成數顯技術與高精度測微系統，適用于外徑、厚度、溝槽等尺寸的0.001mm級測量，廣泛用于機械加工、汽車制造、電子元件等領域，是工業生產與質量檢測中的基礎高精度量具。

視頻工業內窺鏡 106     

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上海阜力測量設備有限公司的阜力視頻工業內窺鏡WS-K是一款專為工業檢測設計的便攜式視頻內窺鏡，集成高清攝像頭、柔性插入管與智能顯示系統，適用于管道、機械、汽車、航空等領域內部缺陷（如裂紋、磨損、異物）的快速可視化檢測，為設備維護、質量控制及故障診斷提供高效解決方案。

高精度軸承圓柱度儀 106     

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威而信高精度軸承圓柱度儀CA30是一款專為圓柱形零件（如軸承內外圈、軸類）設計的高精度測量設備，集成旋轉測量技術與智能分析軟件，可精準評估圓柱度、圓度、同軸度等形位公差，為軸承制造、汽車零部件、精密機械等行業提供高效的質量控制解決方案。

數顯電子柱氣動量儀 104     

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上海阜力測量設備有限公司的阜力數顯電子柱氣動量儀DZL-3D是一款基于氣動測量原理的精密檢測設備，集成電子柱顯示與數顯技術，適用于工業生產中孔徑、軸徑、間隙等尺寸的快速、高精度檢測，為批量生產的質量控制提供高效解決方案。

三次元測量儀 104     

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上海阜力測量設備有限公司代理的愛德華三次元測量儀daisy564是一款高精度三維坐標測量設備，集成光柵位移技術、多測頭系統與智能測量軟件，適用于復雜零件的三維尺寸、形位公差及輪廓特征的精密檢測，為工業制造、航空航天、模具研發等領域提供高效、準確的質量控制解決方案。

接觸式輪廓測量儀 106     

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上海阜力測量設備有限公司的威而信接觸式輪廓測量儀是一款基于觸針式傳感技術的精密檢測設備，專注于工件表面輪廓、形狀誤差及尺寸參數的精準測量，為工業生產與研發中的質量控制、工藝分析提供高效解決方案。

觸摸屏便攜式分體粗糙度儀 104     

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上海阜力測量設備有限公司的阜力觸摸屏便攜式分體粗糙度儀FL300R是一款專為表面粗糙度檢測設計的便攜式設備，采用分體結構與觸摸屏操作，適用于工業現場、實驗室等場景，可快速、精準測量工件表面的微觀幾何形貌參數（如Ra、Rz等），為質量控制與工藝優化提供數據支持。

全自動二次元影像儀 104     

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上海阜力測量設備有限公司的萬濠全自動二次元影像儀VMS-3020H是一款基于光學成像與圖像處理技術的高精度測量設備，集成全自動控制與智能軟件系統，適用于工業領域二維尺寸、形位公差及輪廓特征的快速、精準檢測，為質量控制與研發提供高效解決方案。