公開了直流自愈式金屬化薄膜電容器的壽命預測方法,方法中,測定直流自愈式金屬化薄膜電容器試驗前電容C0和試驗電壓Ui,進行老化試驗,每間隔預定時刻測量直流自愈式金屬化薄膜電容器的電容以記錄不同時刻的電容值Cx及相鄰測量之間的電容差ΔC;拆解直流自愈式金屬化薄膜電容器獲得薄膜電容器芯子;逐層拆解薄膜電容器芯子獲得老化后的內部薄膜試樣;統計多段試樣中金屬電極損失掉的面積獲得不同位置處面積損失數據,對數正態分布分析面積損失數據獲得擬合結果以計算平均每擊穿點損失的金屬電極面積Sn,失效概率Φ和壽命t在威布爾坐標紙上繪制圖像獲得電容器的壽命受到局部金屬化薄膜自愈特性影響的模型。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)