本發明公開了一種可持續利用多用探測卡,包括:基座、對準卡、針托架、緩沖框、緩沖墊和固定卡;對準卡套設于芯片的外部并能夠將芯片固定于基座;針托架上設置有測試針,測試針的一端位于芯片的頂部且緩沖框覆蓋于對準卡的頂部以使得測試針、對準卡相接觸,測試針的另一端通過連接孔固定于基座上;緩沖框的兩側分布有緩沖墊,固定卡位于緩沖墊的頂部以使得緩沖墊固定于基座的頂部。該可持續利用多用探測卡能夠重復地對芯片進行失效分析,同時成本低。
聲明:
“可持續利用多用探測卡” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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