本發明公開了一種基于自振蕩回路的電路老化測試方法,其特征是:根據靜態時序分析和路徑間相關性,選取待測電路中的老化特征通路集合T;保持老化特征通路集合T中各條待測路徑上具有奇數次邏輯非,形成自振蕩的回路;采用固定型故障的測試生成方法,生成測試向量,激發自振蕩回路,產生測試電平信號;通過計數器采樣自振蕩回路,獲取電路老化特征值,度量待測電路老化程度。本發明可以以較低的功耗精確度量電路的老化程度,為電路老化失效防護提供準確的依據。
聲明:
“基于自振蕩回路的電路老化測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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