本發明公開了一種CT探測器核心部件的高加速壽命試驗方法。本發明將CT探測器核心部件放入高加速壽命試驗箱中,控制高加速壽命試驗箱同時進行溫度、振動循環周期性試驗。并通過高低溫循環變化,逐步增加溫度應力系數。在每個高溫點向低溫點變化的同時,振動應力步進增加。在各相應時間點進行失效判斷和失效統計,直到試驗樣品全部失效為止,最后進行失效分析,鑒定探測器核心部件的平均無故障工作時間。本發明避免了正常壽命試驗方法樣機數大、耗時久的缺點,相比普通的高低溫循環試驗、振動步進試驗大大縮短了試驗時間。在短期內快速激發核心部件的潛在故障,為產品的整體設計提供全過程技術支持,有效提高產品的可靠性水平。
聲明:
“CT探測器核心部件的高加速壽命試驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)