提供一種測量金屬結構的氫擴散率的方法。所述方法包含將氫充電表面設置在所述結構的外表面上的第一位置處,和將氫氧化表面設置在鄰近于所述結構的所述外表面上的所述第一位置的第二位置處。產生氫通量并將其引導到所述充電表面處的金屬表面中。檢測由所述充電表面產生并轉回到所述表面的所述氫通量的至少一部分,并且測量轉移的氫通量的瞬態。接著基于測量到的瞬態確定所述金屬結構的所述氫擴散率。
聲明:
“用于無損測量氫擴散率的設備和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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