本發明公開一種組織樣品快速質譜成像方法。該方法包括S1.制備納米印跡基材;S2.樣品壓?。簩悠穳河≡谒黾{米印跡基材上,使得在納米印跡基材上獲得組織樣品印跡;S3.質譜成像:采用光源對組織樣品印跡進行照射,并通過質量分析器進行檢測,獲得具有組織樣品印跡表面所有化學信息的二維質譜成像圖。本發明通過納米印跡基材代替傳統的印跡基材,其無需在壓印后再噴涂基質,可保證成像結果真實可靠,避免了假陽性結果;所述納米印跡基材的制備方法簡單,并且可以實現原位壓印和離子信號增強的效果;相對于傳統壓印PTFE材料,本發明所述納米印跡基材具有廣泛的普適性和應用前景,可“百搭”于市面上商品化的基于激光解吸/電離的質譜儀。
聲明:
“組織樣品快速質譜成像方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)