一種用于當至少一個樣品(108)受到入射激發輻射激發時,探測來自所述至少一個樣品(108)的發光的探測系統(100、150、180、200、220、250)。探測發光能夠探測例如生物、化學或生化顆粒。探測系統(100、150、180、200、220、250)包括具有至少第一表面(104)的至少一個光學部件(102)。將至少一個光學部件(102)的第一表面(104)定位為對入射激發輻射進行內反射,從而在至少一個光學部件(102)外部生成消逝場以對至少一個樣品(108)進行激發。探測系統還包括至少一個探測器元件(110),所述探測器元件與至少一個光學部件(102)直接接觸,以便探測來自至少一個激發樣品(108)的通過至少一個光學部件(102)的發光。
聲明:
“使用消逝場激發的輻射探測器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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