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            > 化學分析技術

            > 采用納米級半導體材料為基底進行SERS檢測的方法

            采用納米級半導體材料為基底進行SERS檢測的方法

            1182   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 07:11:27
            本發明屬于分子識別技術領域,具體涉及采用納米級半導體材料作為表面增強拉曼散射基底,進而進行SERS測試的新方法。包括半導體納米材料的表面功能化和檢測修飾到半導體表面的探針分子SERS信號兩部分。SERS信號經歷顯著的增強,其增強因子可達104。本發明在許多半導體和探針分子的組合上都表現出強的SERS信號,包括碲化鎘、硫化鎘、氧化鋅、硫化鋅、硫化鉛、二氧化鈦、四氧化三鉛或氧化鉛等半導體材料和巰基吡啶、對氨基苯硫酚、吡啶、巰基苯甲酸、1,4-2[2-(4-吡啶基)乙烯基]-苯、2-2聯吡啶或4-4聯吡啶等探針分子??杀粡V泛應用于先進材料、表面處理、催化作用、電化學、腐蝕和生物傳感器等方面。
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