本發明涉及一種檢測嵌段聚合物中接枝基團所在位置的方法。它基于結構復雜的聚合物結構中各組分,各個基團所處聚集態、化學結構的差異性上得到的關于基團所在位置的信息。在檢測過程中,給予實驗體系一定外部的擾動,收集一系列譜線,然后通過擾動相關移動窗口二維相關方法分析光譜數據,分析各組成部分的響應行為以及特征接枝基團的響應行為,由此得到特征接接枝基團與某組分、基團響應的信息是否具有一致性,既而通過進一步判斷,得到特征接枝基團所在位置的信息。本發明適用于具有復雜化學、聚集態結構的聚合物體系的接枝基團的檢測,并且分辨率高,重復性好,檢測結果穩定,操作簡單,具有推廣和應用價值。
聲明:
“檢測嵌段聚合物中接枝基團所在位置的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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