本發明公開了一種基于強化學習的電路參數優化方法及系統,其中,該方法包括:獲取仿真電路的優化參數和觀測信息,并對優化參數進行初始化;將觀測信息輸入預先訓練好的神經網絡模型,以輸出優化參數的更新量;根據更新量對優化參數進行更新以達到優化目標。該方法可以快速得到給定設計參數及設計目標下最優的優化參數,提高電路設計效率,縮短電路產品的上市時間。
聲明:
“基于強化學習的電路參數優化方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)