本發明公開了一種基于表面等離于體諧振的局部電化學成像測試系統,其包括光學系統、機械系統、數據采集系統、流通系統、電化學系統和計算機控制系統;光學系統包括SPR芯片、光學棱鏡和光源,光源發出入射激光并照射至光學棱鏡;流通系統包括微流控測試池;待測物通過所述微流控測試池流經SPR芯片上表面引起所述表面等離于諧振吸收峰的改變;電化學系統問待測物提供電刺激使得待測物產生電化學反應,并采集相應的電化學信號;所述數據采集系統采集所述表面等離于諧振吸收峰的改變;所述機械系統用于調整光源發出的入射激光的角度;所述計算機控制系統根據所述電化學信號和所述表面等離子諧振吸收峰的變化獲得待測物的相應信息。
聲明:
“基于表面等離子體諧振的局部電化學成像測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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