本發明公開了一種基于電化學發光自干涉測量溶液中發光層厚度及發光分子與電極之間距離的方法,所述方法包括:(1)在電極體系的電解質溶液中含有發光分子或工作電極表面固定有發光分子,對電極體系施加電位,發光分子發光作為光源,工作電極產生干涉光;(2)依次采用準直鏡、光纖和狹縫在垂直于工作電極的方向收集工作電極的干涉光信號,并用光纖光譜儀記錄,得到工作電極的電化學發光自干涉光譜;(3)利用傳輸矩陣法和雙光束干涉法對電化學發光自干涉光譜進行分析計算,得到發光層厚度或發光分子與電極之間距離。該方法測量的空間分辨率達到納米級,對研究電化學發光的機理、提高其性能具有重要意義。
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