其他其他有色金屬分析檢測技術理論與應用

效能偵測裝置 795     

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本實用新型公開了一種效能偵測裝置，包括速率偵測裝置和位移偵測裝置，速率偵測裝置包括速率傳感器和發光二極管，位移偵測裝置包括第一位移傳感器和第二位移傳感器；速率偵測裝置位于固定盤和拋光墊整修器的側面，并對準拋光墊整修器；位移偵測裝置位于固定盤的上方，并對準固定盤和拋光墊。本實用新型的優點和有益效果在于：實現了及時發現拋光墊整修器及整修裝備的故障或失效，減少拋光墊整修器作虛功，提高生產效率的效果；以及起到了精確掌控拋光墊整修器運轉情況及效能，和提早偵錯并及時發現問題及了解效能衰退幅度，減少停機檢查維修的頻率，提高生產效率的作用。

計算機控制的風扇裝置可靠性測試系統 1135     

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一種計算機控制的風扇裝置可靠性測試系統,通過計算機控制的自動化方式對一組風扇裝置進行可靠性測試,試系統至少包括:群組式風扇裝置搭接模塊、主監控模塊、程控電源模塊、轉速控制信號產生模塊以及運轉特性檢測模塊;本發明以計算機控制的自動化方式對一組風扇裝置進行可靠性測試,并可同時測量多種運轉特性,包括單個風扇裝置的消耗電流和所有風扇裝置的總消耗電流以及單個風扇裝置的風扇失效信號和循環轉速信號,且可進而利用計算機自動化方式記錄及匯總所有的測試結果資料,使得風扇裝置的測試程序更省時省力且具有更高的效率。

測試系統以及半導體元件 896     

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本發明披露了一種測試系統以及半導體元件。該測試系統，用以在晶圓級燒入測試期間檢測是否有一或多個聯結性失效狀況發生于一測試機臺和一待測晶圓的傳輸路徑上。依據本發明一實施例，該測試系統包含一探針卡和n個晶片。該探針卡包含m個第一信號接點，用以接收來自該測試機臺的m個測試信號；n個第二信號接點，用以提供該測試機臺n個測試結果；和一接點陣列。該探針卡借助多個探針與該待測晶圓接觸。依此方式，該測試系統可檢測是否有一或多個短路或開路發生于該測試機臺和該待測晶圓的傳輸路徑上。

用于旋轉驅動的線性執行器的角度測量裝置 976     

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本發明涉及一種用于旋轉地被驅動的線性執行器的、尤其用于離合器執行器的角度測量裝置，所述角度測量裝置至少具有如下部件：?具有轉子軸線的轉子元件，所述轉子元件同心設置地與旋轉的驅動器的轉子一起轉動，所述旋轉的驅動器用于能軸向運動的線性執行器元件；?具有極性的第一測量磁體裝置，所述第一測量磁體裝置相對于轉子元件固定，其中極性定向成，使得以從至少一個測量位置中能確定的方式隨轉子元件的轉動而角度單義地改變磁場線；?處于測量位置之一處的360°傳感器，所述360°傳感器用于基于測量磁體裝置檢測角位置；處于測量位置之一處的轉數傳感器，所述轉數傳感器用于基于測量磁體裝置檢測所經過的絕對轉數。借助在此提出的角度測量裝置，在結構空間需求小的情況下確保防失效地讀出靜液壓離合器執行器的例如主動缸的絕對路徑位置。

用于車輛測距的方法和系統、車輛及程序產品 1068     

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本發明涉及車輛領域，具體而言涉及一種用于車輛測距的方法，其包括以下步驟：S1由本車輛的傳感器檢測目標車輛的車牌；S2基于所檢測的車牌成像識別車牌信息并獲知車牌尺寸；S3在傳感器坐標系中對車牌成像進行校正；S4在傳感器坐標系中計算傳感器與車牌的距離；S5將傳感器坐標系轉換成本車輛坐標系；S6在本車輛坐標系的情況下對目標車輛的車牌位置進行建模；和S7基于車牌模型獲得本車輛與目標車輛的距離。本發明還涉及一種用于車輛測距的系統、相應車輛及計算機程序產品。通過本發明能在利用現有裝置的情況下借助間接測量實現可靠的車輛測距。由此還能實現車輛測距的簡單冗余方案，從而在車輛測距裝置失效的情況下仍然確保車輛行駛的安全性。

用于在運動的物體上定位測量點的方法 744     

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本發明涉及一種用于相對于物體(5)上位置固定的特征(8)定位測量點(15、18)的方法，所述物體(5)沿移位路徑移動。構成有第一和第二光學檢測區(10、11)，通過所述光學檢測區確定所述特征(8)的當前實際位置。所述兩個光學檢測區(10、11)設置在彼此重疊的位置中，從而構成重疊部段(13)。所述測量點(15、18)分別設置成與所述特征(8)隔開預先確定的固定的距離(16、19)。如果所述特征(8)處于第一光學檢測區(10)之內，則在已定位的第一測量點(15)處進行測量。如果所述特征(8)處于重疊部段(13)之內，則使第一測量點(15)失效并激活第二測量點(18)，并且執行測量。

直徑測量裝置 740     

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一種檢測可能失效的吸入罐閥(30)的方法,其中閥(30)通過箍圈卷邊(80)聯接到罐(10),包括如下步驟:將罐(10)放置在罐夾具(220)中,罐夾具(220)將罐(10)保持在相對于直徑測量裝置(230)預定的測量高度位置處;在預定高度位置處測量箍圈卷邊(80)的直徑;比較測得的卷邊直徑與預定的合格區間,如果測得的直徑不在預定區間范圍內,表示吸入罐閥(30)可能失效。還提供一種卷邊直徑測量裝置(200),包括:基座(210);由基座(210)支撐的直徑測量裝置(230);和由基座(210)支撐的罐夾具(220),所述罐夾具(220)布置成將罐(10)保持在相對于直徑測量裝置(230)預定的測量高度位置處。

測量水溫的傳感器 1042     

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本發明提供了一種測量水溫的傳感器,其中通過將借助電線與引線連接的水溫檢測傳感器與填充材料一起固定地裝在水溫檢測部分中,水溫檢測部分形成在管形體的前部,與水溫檢測傳感器相連的引線以Z形或以螺紋形布置并纏繞在形成于外殼后部的引線插入空間中,以使長度很長的引線插入外殼中,從而能夠完全防止溫度檢測傳感器接觸水分,并且能通過引線將傳遞到溫度檢測傳感器上的外部溫度延遲一段時間間隔,從而外部溫度不能直接影響溫度檢測傳感器,并能將由于各種原因導致的溫度檢測傳感器的失效減小到最低程度,并能由于溫度檢測傳感器的工作而提供水溫的徹底檢測,并能保證一些裝置的有效利用,這些裝置具有必須精確執行水溫測量和控制的過程,例如各種實驗裝置或熱交換器。

控制閥壓力泄放觀測端口 842     

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一種閥門,具有用來在使閥門的閥帽(16)從它與閥體(12)的接合狀態下分開之前釋放內壓的一整體部件。該整體部件具有一貫穿閥體的孔道(20)。這使得該閥門的內壓在使閥帽與閥體完全拆卸開之前與大氣壓平衡。通過提供用于流體在閥帽和閥體之間的密封失效情況下穿過閥門泄漏到閥體外面的通道,貫穿閥體的孔道還用作泄漏檢測器,經過者可以很容易地在觀察位于閥體外面的孔道的暴露端時發現流體穿過閥門泄漏到閥體外面的現象。

微電子裝置測試以及相關裝置、系統和方法 1219     

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本文中描述微電子裝置測試以及相關方法、裝置和系統。裝置可包含存儲器陣列，所述存儲器陣列包含某一數目的行和某一數目的列。所述存儲器裝置可進一步包含耦合到所述存儲器陣列的電路。所述電路可經配置以對所述數目的行中的每一行執行測試操作以檢測：所述數目的行中的第一行的第一失效；以及與所述數目的行的行集合相關聯的額外失效集合。所述電路還可經配置以確定所述行集合是否鄰近于所述第一行。此外，響應于確定所述行集合鄰近于所述第一行，所述電路可經配置以產生指示所述數目的列中的列的失效的信號。

就地清洗系統和密封性監測 908     

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在此提供一種用于檢測一個傳送機部件內的密封區域的密封失效的裝置和方法。一條流體管線延伸出該密封區域中并且一個傳感器被連接到該流體管線上。一個閥被連接到該傳感器后面，并且一個流體泵被連接到該閥后面。一個控制器被連接到該傳感器、該閥以及該流體泵上。該傳感器是在該密封區域的外部并且該閥是一個電磁閥。該密封區域是在一個空轉皮帶輪內，該空轉皮帶輪具有一個滾筒殼體、一個附連在該滾筒殼體的軸向端處的端蓋和一個軸。該密封區域可以包含在一個機動化滾筒或一個中空傳送機框架結構內。一種方法通過形成由一個表面和一個密封件界定的一個密封區域并且改變流體壓力來檢測密封失效，其中對流體壓力的時間變化速率進行監測。

半導體芯片及其預燒測試方法 889     

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本公開提供一種半導體芯片及其預燒測試方法。另本公開執行一種預測試，預測試在預燒測試之前的預測試階段期間檢查插口的每一電接觸件與半導體芯片的對應引腳之間的電連接。每一個電接觸件與每一個引腳之間的電連接通過多個信號通道來檢查。即使在信號通道中的一個失效時，只要信號通道中的另一個通過預測試，就仍可執行預測試和預燒測試。另外，通過多個信號通道的預測試階段還提供信息，以用于確定半導體芯片的失效是否由預燒板的插口之間的電連接或由半導體芯片自身所導致。

用于存儲設備的預測定時校準 758     

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本發明提供了一種使用 2N位同步模式的獨特方法，從而 可在存儲系統中獲得較快且較可靠的多數據通道的校準。如果 2N位同步模式是用已知的時鐘 相位關系獲得的，則可使用簡單的解碼邏輯來判定數據－時鐘 相位的對準，從而從剛檢測到的m位預測下一個m位。如果 接下來的m位模式不與預測的模式匹配，則在所進行的對準的 數據通道中對特定延遲值調節，當前的數據－時鐘對準就失 敗，且在該數據通道中的延遲被調整為新值。本發明也通過強 行使與不想要時鐘信號沿，比如負向沿有關的所有預測的m位 模式失效從而保證了數據對準將發生在時鐘信號的想要沿，比 如，正向沿上。

使用線性反饋移位寄存器在存儲器內建自測試環境中的故障診斷 1131     

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本發明所公開內容為在存儲器內建自測試環境中對失敗的存儲器測試的測試響應標記進行暫時壓縮的方法和器件,其目的是即使在檢測到多個與時間相關的存儲器測試故障時也能夠進行存儲器內建自測試操作。在本發明的一些實施例中,被壓縮的測試響應標記在自動化測試設備器件上與存儲器位置信息一起給出。根據本發明的各種實施例,帶有嵌入式存儲器(204)的集成電路以及存儲器BIST控制器(206)還包括用作標記寄存器的線性反饋結構(410),可在存儲器測試的某一測試步驟中對來自嵌入式存儲器陣列的測試響應標記進行暫時壓縮。在各種實施例申,集成電路還可能包括失效字計數器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以對失敗的測試響應收集存儲器位置信息。

用于預測發動機及其部件的剩余使用壽命的方法 1001     

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一種用于預測具有部件（18、19、22、23）的發動機（10）的剩余使用壽命的方法，所述部件由傳感器（50）檢測，該傳感器（50）產生指示所述部件的運行狀況的電子數據信號，該方法包括：識別（52）一個或多個部件并識別每個部件的限制所述部件和發動機的運行壽命的至少一種失效模式。該方法還包括：獲得（62）并存儲有關所述部件的與所識別失效模式關聯的現有運行狀況的數據；以及接著基于有關所述部件的現有運行狀況的數據、有關與失效模式相關聯的運行狀況的歷史數據、以及所預測的失效模式速率，確定（68）所述部件的剩余使用壽命。

監測元件和結構的完整性的方法和裝置 758     

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為監測置于包含處于環境壓力下的流體(F)的環境中結構(10)的完整性提供一種方法和裝置。結構(10)包括外殼(12)和多個內腔(14)。該方法包括:施加另一流體至腔體(14),施加的流體處于稍大于大氣環境壓力(F)的壓力下。監測施加的流體的流率,來檢測流率的變化。流率的變化表明了通過結構(10)的額外流體滲漏,從而提供了結構(10)的完整性失效的高級報警。通過使施加的流體流過高流量阻件(28)和用轉換器(30)監測阻件(28)兩端壓力的變化,可實現監測功能。

電子鎮流器的燈壽命終止單點感測、防電弧放電和空載保護 940     

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披露了系統和方法,所述系統和方法有利于感測燈處于壽命終止(EOL)階段時或者燈經歷例如燈與其支座之間的觸點受損時可能出現的電弧放電傳導情形時燈用鎮流器中的脈沖。通過感測脈沖,微控制器可基于檢測到的脈沖寬度區分EOL和電弧放電情形,并可起動適當的響應。例如,如果脈沖由電弧放電現象引起,則微控制器可在重啟燈之前短時中斷燈的工作,以減少電弧放電情形。如果脈沖由EOL情形引起,則微控制器可將燈置于預熱或重啟模式以加速燈的失效。在任一情況下,對感測脈沖的響應均減少可破壞燈座的危險高燈溫的出現。

用于照明元件測試的故障保護電流源 887     

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提供了一種故障保護電流源，其可以用來在可靠性測試系統中安全驅動地LED。該電流源包括檢測在LED可靠性測試系統中發現的常見故障的電路和過程。在檢測到故障之后，該電流源在破壞性尖峰產生之前關閉驅動器。因為僅將真實LED失效計數，所以該故障保護電流源可以用來構造產生更準確的可靠性測試數據的可靠性測試系統。

流體狀態監測器 1023     

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本發明是一種小型設備和在工作設備中以有效方式直接監測工作流體狀態和液面高度的方法。提供一種包括多個液體傳感器和多個蒸汽傳感器的傳感器裝置,在不同溫度下互相結合使用時,可以全面評價流體的氧化降級,液體污染和固體污染以檢測流體使用壽命的終結。通過在相同傳感器裝置上提供液體傳感器和蒸汽傳感器,本發明能夠以小型、有效和經濟可行的方式監測流體的狀態以及在其他元件損壞和最終設備失效之前檢測非正常的工作狀態。

健康監測系統的幫助診斷和維護方法與機構 893     

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本發明涉及健康監測網絡的系統和方法,其利用對動態注冊傳感器數據流的實時故障檢查來自動檢測故障或失效傳感器。監測系統和傳感器網絡可以提供單觸式系統來在傳感器需要注意時通知用戶,而無需事先了解網絡中的傳感器的操作特性、安裝方法或配置。網絡利用決策引擎根據基于個人偏好和能力的簡檔幫助維護。

用于加熱和烹調裝置的溫度測量電路 1191     

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一種溫度測量電路,通過分支電阻將一個溫度傳感器,比如熱敏電阻,連接到一個基準電壓源,比較裝置把所述傳感器連接點的電壓與規定的電壓作比較,以檢測所述溫度傳感器所檢測的值,經過簡化的電路能夠檢測出所述的溫度傳感器的失效,比如傳感器的斷裂或燒斷。

測試裝置 770     

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本發明提供一種以高效率管理測試結果為目的的測試裝置,該測試裝置包括:測試被測試存儲器的各單元的測試部;對應被測試存儲器的各單元,在失效存儲器中保存表示該單元好壞的失效信息的失效信息保存部;對被測試存儲器具有的每個塊,計數在該塊內中被檢測出的不良單元的數目的計數部;塊接收要求讀出塊所包含的各單元的失效信息的讀出要求接收部;將讀出目標塊內的不良單元的數和預先被確定的基準數進行比較的比較部;把讀出目標塊內的不良單元的數超過基準數作為條件,為了對讀出要求回信,將包含讀出目標塊內的各單元的失效信息的回信數據列中,連續的復數的失效信息轉換成表示品質不良的值的變換部;以及回信數據列壓縮后回信的壓縮部。

將波束恢復測量優先于其他測量 1174     

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根據第一實施方式，一種方法可以包括由用戶設備確定波束失效實例的數目大于或等于至少一個閾值。該方法可進一步包括由用戶設備發起對至少一個波束候選集的至少一個測量。該方法可進一步包括由用戶設備暫停由用戶設備執行的非波束候選測量。

用于監測集成電路上金屬退化的電路 1084     

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本發明涉及用于監測集成電路上金屬退化的電路。一種集成電路(IC)，具有諸如功率MOSFET的熱發生元件、耦合到熱發生元件的載流導體、鄰近載流導體的感測導體以及耦合到感測導體的失效檢測電路。當IC的熱循環導致感測導體的電阻變得大于依賴于溫度的閾值時，失效檢測電路生成信號，該信號指示集成電路將不久失效。由通過將電流注入到感測導體中以生成電壓來確定感測導體的電阻。依賴于溫度的閾值是通過將電流注入到被布置得遠離載流和感測導體的參考導體中所生成的電壓。電壓比較器比校兩個電壓以生成輸出。替代地，失效檢測電路包括處理器，該處理器從在集成電路上采取的溫度測量計算依賴于溫度的閾值。

用于監測硬盤的健康狀況的方法和裝置 814     

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本發明的各種實施例提供了一種用于監測硬盤健康狀況的方法和裝置。該方法包括獲取與硬盤相關聯的全維度特征，其中全維度特征包括以下各項中的至少兩項：硬盤性能信息、數據完整性信息、輸入／輸出I／O正確性信息、以及硬盤的自動監視分析和報告技術S.M.A.R.T.報告。該方法還包括基于全維度特征確定硬盤的健康狀況。在本發明的實施例中，根據反映硬盤的多方面狀況的全維度特征對硬盤的健康狀況進行評估，可以降低對硬盤的健康狀況的誤判率，從而使得硬盤更換次數降低、更換成本降低，并且還將會能夠及時發現存儲系統中實際失效的其他部件。

具有改良式壓柱的測試座及其測試系統 999     

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本發明公開了一種具有改良式壓柱的測試座及其測試系統，測試座包括：一吸測盤、一套襯座、及一基座。吸測盤具有多個壓柱，每一壓柱穿設有一通道及具有一圖樣的截面部；套襯座上具有可容納多個待測傳感器的多個容納室，多個容納室對應多個壓柱而設置；基座上具有多個穿孔以容納多個探針。其中，吸測盤的每一壓柱分別置入套設于套襯座的每一容納室。由此，可避免在吸取移動及壓測待測傳感器時，造成待測傳感器的感應元件，產生測試失效等問題。

半導體存儲裝置及檢查方法 1046     

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提供一種半導體存儲裝置,具有可瞬時進行涵蓋全地址空間的失效位圖的確認的單元。具備如下強制控制電路中的任意一種:對由特定的地址信號所選擇的內存單元的寫入數據或讀出數據的邏輯進行強制控制的數據邏輯強制控制電路(21),對由特定的行地址所選擇的內存單元的控制,強制進行與通常動作不同的控制的特定行強制控制電路(40),對由特定的列地址所選擇的內存單元的控制,強制進行與通常動作不同的控制的特定列強制控制電路(50)。該強制失效動作模式與通常動作模式可分別選擇。

內建自行測試系統及方法 842     

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外部測試裝置系被使用以仿造一內部BIST測試,因此使獲取或產生詳細測試結果為可能。通過在測試時間實時仿真BIST測試序列,外部測試器可能監控自BIST之一輸出且決定失敗發生的確實位置。外部測試器可能產生一位失敗映像指示是否每一內存位置通過或未通過BIST測試。

超聲探頭換能器測試 1049     

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通過在其透鏡與空氣接觸的情況下操作探頭來針對其陣列換能器的元件的失效對超聲探頭進行測試。在該操作模式期間產生的回波信號被波束形成為由所述探頭產生的掃描線的常見集合。每條掃描線的頻率響應被分析，并且和與測試中的所述探頭相同類型的已知好探頭的對應掃描線的頻率響應的參考信號進行比較。如果比較披露方差大于預定的偏差，那么警告用戶所述探頭應當被更換。

機器剩余使用壽命的預測方法 1073     

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一種基于時間——特征值的數據記錄對機器的剩余使用壽命進行預測的方法，包含以下步驟：步驟1)采用回歸分析法擬合出反映時間與特征值之間變量關系的機器壽命曲線的數學模型，并根據所述模型計算出壽命曲線到達預設的失效閾值所需的時間，即預期剩余使用壽命；以及步驟2)、以隨機缺省部分數據的方式重復執行上述步驟1，并根據重復執行的結果統計出預期剩余使用壽命的概率分布，其中最大概率分布處所對應的剩余使用壽命被確定為機器最有可能的預期剩余使用壽命。上述方法避免了以單一壽命曲線模型預測機器剩余使用壽命的偏執性，能夠顯著提高機器預測的可靠性和準確性。