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工作原理
FM-NanoviewOp-AFM采用光杠桿式AFM技術與光學顯微成像系統集成設計。光學模塊通過CCD相機實現樣品宏觀形貌觀察與定位，AFM模塊則通過微懸臂探針掃描樣品表面，利用激光反射檢測探針與樣品間的原子間作用力，生成納米級三維形貌數據。設備支持接觸模式、輕敲模式及力學曲線測量，可同步獲取光學圖像與AFM掃描結果。
應用范圍
該設備廣泛適用于半導體、材料科學、生物醫學及精密制造等領域，主要用于：芯片表面缺陷定位與納米結構分析；金屬、陶瓷、高分子材料的表面形貌與粗糙度檢測；生物樣本（如細胞、DNA）的微觀結構觀察；以及納米材料研發、摩擦學研究及工業產品表面質量控制。
產品技術參數
光學分辨率：0.5μm（明場/暗場）
AFM掃描范圍：XY軸50μm×50μm，Z軸8μm
XY軸分辨率：0.2nm
Z軸噪聲水平：<0.1nm
掃描速度：0.5-20Hz（可調）
探針類型：氮化硅/金屬鍍層探針（可選）
樣品尺寸：最大直徑150mm（兼容標準載玻片）
電源：AC220V±10%, 50Hz
外形尺寸：800×600×750mm
產品特點
一體雙模設計：光學顯微與AFM檢測無縫切換，提升定位效率與檢測精度。
高穩定性架構：采用大理石基座與抗震設計，適配實驗室與工業環境。
智能化軟件：內置自動調平、圖像拼接及數據分析功能，支持3D形貌重建與統計計算。
用戶友好操作：12.1英寸觸控屏集成控制，數據可導出為光學圖像、AFM掃描圖及力學曲線。
多功能擴展：可選配導電探針、高溫樣品臺及液體環境檢測模塊，適配復雜研究需求。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
