XEPOS采用先進的偏振技術,正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種先進的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發展這一技術,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。
GENESIS是德國斯派克公司首臺配備一整套工廠方法的 ICP-OES光譜儀——真正“即插即分析”,無需首先開發方法。這些工廠方法涵蓋所有常見的環境和工業應用,如水、廢水、工業廢水、土壤、下水道淤泥、濾塵、油品中的磨損金屬和添加劑。