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便攜式揮發性脂肪酸測定儀LH-P3VFA是北京連華永興科技發展有限公司推出的專項檢測設備，采用電位滴定法與智能算法，可快速測定水樣中揮發性脂肪酸（VFA，如乙酸、丙酸、丁酸）濃度（0-500mg/L），適用于環境檢測、污水處理、厭氧消化過程控制等場景的VFA定量分析。
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T-BD5-EMC1204是北斗星科技推出的一款電磁式液體濃度檢測儀，采用電磁感應原理與微處理器技術，可實時監測液體中溶質濃度（如鹽溶液、酸堿液、乳濁液等）。設備具備非接觸式測量、高穩定性、抗干擾能力強等特點，適用于化工、食品、制藥等行業的過程控制與質量檢測。
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ARM6103是北斗星科技推出的一款固定式空氣放射性監測儀，采用高靈敏度探測器與智能算法，可實時監測環境中α、β、γ射線及特定放射性核素（如Cs-137、Co-60）的濃度或劑量率。設備具備防爆認證、高精度測量、實時報警等功能，適用于核設施、醫院、實驗室、邊境檢查站等場所的輻射安全監測。
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北京市北斗星科技有限公司防手持式大量程總粉塵防爆檢測儀HBD5-SPM4200工作原理、應用范圍、產品技術參數、產品特點等。（每個要點單獨分段，產品介紹幾句話單獨分段）
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北京市北斗星科技有限公司AQM空氣質量監測儀 WAir2000SR-6s01工作原理、應用范圍、產品技術參數、產品特點等。（每個要點單獨分段，產品介紹幾句話單獨分段）
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FT-NMT03納米力學性能測試系統是一款可在SEM/FIB中對微納米材料和結構的力學性能進行原位、直接而準確測量的納米機器人系統。它集合納米操作以及力學-電學性能同步測試功能于一體，幾乎可滿足所有的納米力學測試需求。
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FT-MTA03集納米壓痕儀、微拉力儀、輪廓儀和通用微觀結構分析儀的功能于一體，其測力范圍為±200mN，力學分辨率可達0.5nN（9個數量級），可在三軸方向測量0.1nm至29mm的位移（8個數量級）。FT-MTA03配置高分辨率顯微鏡，具有95mm的極高工作距離，可在樣品上方180°旋轉。配備3百萬像素CMOS USB相機，可選擇同軸透鏡照明、環形光和漫射背光三種可調LED照明原理。
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精密微納米壓痕測試儀是由吉林大學、吉林德融集團和吉林省科技投資基金有限公司三方共同研發生產的高精度材料力學性能測試設備，符合ISO14577國際標準，具備100nN的載荷分辨率、2%～100% FS的試驗力范圍、±1%的力測量精度以及500μm至毫米級的最大壓痕深度。其XY軸定位精度達到2nm，綜合定位精度為3nm，適用于毫米級樣品，可測量壓入載荷-深度曲線、硬度、彈性模量等參數。儀器配備控制主機、專用檢測控制系統及配套分析軟件，廣泛應用于微納米尺度材料力學性能的高精度測試。
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FT-I04Femto納米壓痕儀是一種高分辨率的納米力學測試系統，能夠在微尺度和納米尺度上準確量化材料的機械和摩擦學特性。作為世界上第一個基于MEMS的納米壓頭，FT-I04使用獲得專利的 FemtoTools微機電系統（MEMS）技術。利用二十多年的創新技術，該納米壓痕儀具有無與倫比的分辨率，可重復性和動態穩定性。FT-I04毫微微壓痕儀針對金屬，陶瓷，薄膜和涂層以及更順應的微觀結構例如超材料。此外，FT-I04是模塊化的，可以擴展其功能，以適應各個研究領域的多功能需求。
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布魯克Magnettech ESR5000電子自旋共振波譜儀是一種緊湊型高性能儀器，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領域的苛刻應用。專為學術和工業實驗室設計，尖端EPR技術全面提升您的分析能力。它將簡單的操作與X波段研究級的靈敏度結合在一起，并且提供了一個寬廣的場域范圍，而不需要冷卻水。
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Candela 8420是一種表面缺陷檢測系統，它使用多通道檢測和基于規則的缺陷分類，對不透明、半透明和透明晶圓（如砷化鎵、磷化銦、鉭酸鋰、鈮酸鋰、玻璃、藍寶石和其他化合物半導體材料）提供微粒和劃痕檢測。8420表面缺陷檢測系統采用了OSA（光學表面分析儀）架構，可以同時測量散射強度、形貌變化、表面反射率和相位變化，從而對各種關鍵缺陷進行自動檢測與分類。只需幾分鐘即可完成全晶圓檢測，并生成高分辨率圖像和自動化檢測報告，同時附帶缺陷分類和晶圓圖。
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HRP?-260是一個高分辨率、自動化探針式輪廓儀，提供從幾納米到300微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D和3D測量，掃描范圍可達200毫米且無需拼接。HRP?-260配置了與P-260相同的功能，但增加了高分辨率樣品臺以獲得類似AFM的掃描結果。HRP系列高分辨率輪廓儀具有先進的圖形識別算法，可增強系統之間程式的可傳輸性，從而實現7x24小時全天候生產。
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Alpha-StepD-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺階高度。D-600還支持2D和3D的粗糙度測量，以及用于研發和生產環節的2D翹曲度和應力測量。D-600包含一個帶有200毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學器件。
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