本發明公開了一種用于TEM分析的地質薄片樣品的制備方法,包括以下步驟:準備薄片;選取分析區;固定薄片;鉆取分析區;獲取離子減薄的薄片樣品和離子減薄處理。常規的用于TEM分析的地質薄片用玻璃切割刀進行分割,不僅影響地質薄片其他區域的再次利用,而且因礦物巖石之間硬度差別較大,TEM樣品制備的成功率較低,本發明首次以鉆取的方式制備選定的樣品區域,提高了地質薄片的TEM樣品制備的成功率。
聲明:
“用于TEM分析的地質薄片樣品的制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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