本發明公開了一種考慮碳膜電阻器退化初值的可靠性評估方法,碳膜電阻器的可靠性分析領域,尤其針對碳膜電阻的偽失效壽命計算。將退化初始值的隨機性引入到傳統退化軌跡模型里面,并且計算樣本退化數據的擬合殘差平方和,制定擇優準則令擬合殘差平方和最小為最優退化軌跡模型,隨后求出該退化軌跡模型的偽失效壽命,提升了后續可靠性分析的估計精度。
聲明:
“考慮碳膜電阻器退化初值的可靠性評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)