一種基于貝葉斯理論的電子產品壽命模型概率化方法,它有四大步驟:步驟一:主要失效機理及物理模型的確定;步驟二:確定主要失效機理中各種分散性的來源及表征方法;步驟三:確定失效機理服從的壽命分布;步驟四:基于貝葉斯理論更新參數分布,并結合失效物理模型,利用蒙特卡洛抽樣的方法獲得概率化壽命模型的數值求解。本發明是一種基于應力損傷模型的高可靠長壽命電子產品失效概率計算方法,它通過分析導致電子產品故障的各種材料屬性、尺寸、應力等因素的分散性及描述方法,在現有失效物理模型的基礎上考慮加入這些分散性因素,實現失效物理模型的概率化,為更準確的描述故障,預測產品的貯存壽命提供一種新途徑。
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