<p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

<var id="xhh1v"></var>
<output id="xhh1v"></output>

        <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
          <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

          <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>

            合肥金星智控科技股份有限公司
            宣傳

            位置:中冶有色 >

            有色技術頻道 >

            > 失效分析技術

            > 制備TEM樣品的方法

            制備TEM樣品的方法

            775   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:37
            本發明涉及半導體制造技術領域,尤其涉及一種制備TEM樣品的方法,通過在獲取失效芯片的失效點位置以及非失效芯片的失效分析參考點的位置后,將失效芯片沿垂直于選定側面的方向拋光至失效點的附近,并將非失效芯片沿垂直于該選定側面的方向拋光至失效分析參考點的附近,之后將失效芯片的正面和非失效芯片的正面粘合在一起形成一待測結構,并將待測結構的拋光面朝上放入FIB機臺進行TEM樣品的制備工藝,從而可以快速的制備出TEM樣品,且可以在拍攝高分辨率圖片時找到最合適的厚度,確保高分辨率圖片的質量。
            登錄解鎖全文
            聲明:
            “制備TEM樣品的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
            我是此專利(論文)的發明人(作者)
            分享 0
                     
            舉報 0
            收藏 0
            反對 0
            點贊 0
            標簽:
            失效分析
            全國熱門有色金屬技術推薦
            展開更多 +

             

            中冶有色技術平臺

            最新更新技術

            報名參會
            更多+

            報告下載

            赤泥綜合利用研究報告2025
            推廣

            熱門技術
            更多+

            衡水宏運壓濾機有限公司
            宣傳
            環磨科技控股(集團)有限公司
            宣傳

            發布

            在線客服

            公眾號

            電話

            頂部
            咨詢電話:
            010-88793500-807
            專利人/作者信息登記
            久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码

            <p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

            <var id="xhh1v"></var>
            <output id="xhh1v"></output>

                  <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
                    <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

                    <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>