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            > 用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統

            用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統

            899   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:33
            本發明涉及用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統。該方法包括:(a)接收識別所述硬件設計的一個或多個故障節點的原始故障節點列表;(b)接收指示所述原始故障節點列表中的故障節點分組成多個故障節點組的信息,每個故障節點組包括對所述硬件設計的失效模式具有相同影響的故障節點;(c)基于所述故障節點組生成最終故障節點列表;(d)從所述最終故障節點列表選擇一組故障注入參數,所述一組故障注入參數識別所述最終故障節點列表中要發生故障的至少一個故障節點;(e)基于所選擇的一組故障注入參數,通過使故障注入到所述硬件設計的仿真中,對所述硬件設計執行故障注入測試;(f)確定所述故障注入測試的結果。
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            “用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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