本發明提供了一種數據線合格性測試方法和裝置、陣列基板及其制作方法,所述數據線合格性測試方法包括:根據第一預設數據電壓點亮距離數據驅動電路最近的第一像素,并根據第二預設數據電壓點亮距離數據驅動電路最遠的第二像素;所述第一像素和所述第二像素對應連接同一條被測數據線;獲取所述第一像素的亮度和所述第二像素的亮度;判斷所述第一像素的亮度與所述第二像素的亮度的實際亮度差是否大于預設亮度差;并在所述實際亮度差大于預設亮度差時,判定所述被測數據線不符合要求。本發明提供的數據線測試方法,可以在不設置金屬測試線的情況下完成對數據線的合格性測試,能夠從根本上避免因設置金屬測試線導致的封裝失效的問題。
聲明:
“數據線合格性測試方法和裝置、陣列基板及其制作方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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