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            > 基于多疲勞模式耦合的功率半導體器件壽命預測方法

            基于多疲勞模式耦合的功率半導體器件壽命預測方法

            855   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:19
            本發明涉及一種基于多疲勞模式耦合的功率半導體器件壽命預測方法,針對功率半導體器件不同疲勞模式建立壽命預測模型;獲得功率半導體器件不同疲勞失效模式下的疲勞壽命模型參數數據并帶入壽命預測模型中;建立功率半導體器件電熱耦合模型獲取電熱循環工況參數;將獲取的電熱循環工況參數,代入中壽命預測模型中,計算不同疲勞失效模式對應的疲勞壽命;根據疲勞壽命對電熱耦合模型結殼熱阻和導通電阻進行退化修正。不僅可以判斷導致器件最終失效的疲勞模式,輸出對應的疲勞壽命,而且還可以對器件服役過程中的熱阻/導通電阻等參數的動態退化過程進行仿真提取,為功率半導體器件長期運行可靠性評估提供有效指導。
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