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            > GCT芯片門/陰極阻斷特性圓周法測試臺

            GCT芯片門/陰極阻斷特性圓周法測試臺

            753   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:17
            本發明是一種GCT芯片門/陰極阻斷特性圓周法測試臺。采用圓周轉動測試方法,設計中采用了高精度的三維移動平臺、步進電機驅動的旋轉平臺和探針座,配以CCD視頻顯微鏡進行設備調整和測試過程監控,設計的C型機架和架空平臺以構成較好的人機操作結構,配以不同規格專門設計的載片定位夾具滿足不同尺寸芯片測試需要。該測試臺通過在GCT芯片生產中的應用,在可靠性、檢測準確性和高效率等方面滿足規?;a的測試需要。本測試臺就是為滿足GCT芯片的門/陰極之間數千只二極管特性進行直流電壓阻斷測試,以高效、準確地篩選出個別失效器件,并做以標識,為后續工藝修補提供可能性。
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            “GCT芯片門/陰極阻斷特性圓周法測試臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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