本發明涉及微納器件測試技術領域,公開了一種性能測試方法,包括在不同的溫度環境下對待測樣品進行測試,獲取待測樣品的諧振頻率溫度系數;將待測樣品固定于紅外成像設備上,將紅外成像設備加熱至預設溫度;向待測樣品施加預設輸入功率,使用紅外成像設備對待測樣品進行成像測試,獲取待測樣品在預設輸入功率條件下的表面溫度場信息;保持待測樣品上施加的預設輸入功率不變的情況下,測試獲取待測樣品的特征頻率;根據諧振頻率溫度系數和特征頻率,計算獲取待測樣品在預設輸入功率條件下的等效溫升。通過獲取在預設功率負載下待測樣品的表面溫度場信息以及等效溫升值,為相關產品的設計、可靠性評價及分析、失效機理建模等工作提供可靠的支撐。
聲明:
“性能測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)