為了解決單片機80C196結構功能復雜而外部引腳有限,導致輻射效應測試難以覆蓋單片機80C196所有內部功能模塊的技術難題,本發明提供了一種CMOS工藝單片機80C196輻射效應的在線測試系統和方法。首先對待測單片機80C196進行功能模塊劃分,每個功能模塊都有相應的電參數或功能參數進行表征,以監測每個功能模塊的工作狀態;再通過對各個功能模塊的電參數和功能參數的診斷分析,將輻射效應導致的單片機80C196電參數和功能失效定義到單片機的內部功能模塊。本發明能夠滿足單片機80C196輻射效應的測試需求。
聲明:
“CMOS工藝單片機80C196輻射效應的在線測試系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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