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            > 微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法

            微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法

            894   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:10
            本發明涉及X射線檢測技術,具體涉及一種微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法,該裝置包括電子產品樣品,包括沖擊實驗機和高速X射線成像系統;沖擊實驗機包括電磁釋放器、測速裝置、緩沖裝置、基座、夾具、兩條導軌和沖擊板;X射線成像系統包括X射線發生裝置、圖像增強器、CCD相機、圖像采集裝置和數據分析裝置;X射線發生裝置正對電子產品樣品;圖像增強器與X射線發生裝置處于同一直線;CCD相機依次連接圖像采集裝置、數據分析裝置。該裝置采用高速X射線技術實時監測經跌落沖擊后電子產品失效點的分布,能夠及時發現不合格的失效產品,也為產品零部件材料的選擇,外形設計方面提供可靠的參考,從而提高產品合格率,降低生產成本。
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