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            > 用于預測芯片壽命的芯片內建自檢電路系統

            用于預測芯片壽命的芯片內建自檢電路系統

            896   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 09:00:04
            本發明提出用于預測芯片壽命的芯片內建自檢電路,為維護人員提供維護依據,提前做好防范,減小不必要的損失。該結構建立于芯片上,包括:閾值設置模塊,參數檢測模塊,比較模塊,信息發送模塊等。所述閾值設置模塊,用以選擇可以用來檢測芯片狀態的模塊以及失效值;所述參數檢測模塊,用以實時獲取芯片工作狀態參數;所述比較模塊,用以將即時的芯片工作參數與閾值數值進行比較;所述信息發送模塊,可以將比較結果發送到相關人員設備處,由工作人員決定具體的維護工作內容。
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