本公開實施例提供一種存儲單元的檢測方法及設備,該方法包括:向存儲單元中寫入第一數據;對存儲單元進行第一讀取,以調整存儲電容的第一極板的第一電壓;對存儲單元進行第二讀取,以獲取調整后的第一電壓對應的第二數據;根據第二數據和第一數據是否一致,確定存儲單元的存儲電容是否失效。本公開在進行第二讀取之前,先進行第一讀取,第一讀取的目的并不是讀取數據,而是為了通過第一讀取降低位線回存給第一極板的電壓,從而使后續進行第二讀取時讀取錯誤率較高,進而可以檢測出來更多失效的存儲電容。這樣,就可以將漏電更小的離群存儲電容檢測出來。
聲明:
“存儲單元的檢測方法及設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)