本發明提供了一種電容檢測電路及電容檢測方法。所述電容檢測電路用于對裸玻璃面板進行電容值檢測,所述裸玻璃面板包括對應連接的GOA單元和面板電容;當對所述裸玻璃面板進行電容值檢測時,所述電容檢測電路與所述GOA單元連接,所述GOA單元與信號輸入端連接;所述GOA單元接收所述信號輸入端輸入的信號并導通,所述電容檢測電路對所述面板電容進行充放電,獲得所述面板電容的充電電壓,并根據所述面板電容的充電電壓計算并輸出所述面板電容的電容值。采用本申請的電容檢測電路,在裸玻璃面板階段攔截失效的single?cell,避免在面板制作完成后由于良率過低而導致報廢,從而達到降低浪費,減少成本的目的。
聲明:
“電容檢測電路及電容檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)