本實用新型提供的電子元器件破壞性物理分析的樣品座,涉及電子元器件制造行業的失效分析技術領域,包括上固定盤、底座上部與連桿連接的插孔、帶固定結構的樣品槽、螺絲釘、下固定盤、連桿插孔以及插銷口,其中,上固定盤位于連桿節點下方,下固定盤位于插銷口上方,上固定盤和下固定盤之間裝彈簧。本實用新型提供一種電子元器件破壞性物理分析的樣品座,有效消除了樣品底面磨拋成凸面的可能。
聲明:
“電子元器件破壞性物理分析的樣品座” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)