本公開是關于系統可靠性分析技術領域,具體公開一種結構系統的全局可靠性靈敏度分析方法及電子設備。該方法包括:構建目標結構系統的時變設計點,其中,所述設計點在樣本空間中對所述目標結構系統的失效概率貢獻最大;基于所述時變設計點構建重要抽樣密度函數,以通過所述重要抽樣密度函數抽取多組重要樣本數據;以所述多組重要樣本數據、所述多組重要樣本數據的加權指示函數作為建模樣本構建態相關參數SDP模型;基于所述目標結構系統的時變失效概率、所述SDP模型輸出的所述目標結構系統的加權指示函數的條件期望值確定所述目標結構系統的全局可靠性靈敏度指標。
聲明:
“結構系統的全局可靠性靈敏度分析方法及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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