本公開提供一種發光二極管失效定位方法,其中,發光二極管具有塑封結構,方法包括:電性能測試失效發光二極管的電參數,根據電參數判斷是否為連接失效;若是,確定封裝和外部引腳是否正常;若是,射線測試確定內部引腳和芯片是否正常;若是,射線測試確定是否為鍵合絲內部斷裂;若是,減薄塑封結構,確定鍵合絲內部斷裂的位置。用于各種塑封結構的發光二極管。通過進行物理測試、機械研磨、化學開封相結合逐步定位失效點。對于周圍存在有機物的包裹,斷裂裂紋間隙很小,有還處于時通時斷狀態的發光二極管,可以完整地保留鍵合絲形態,并對鍵合絲的內部斷點進行精確分析??梢院唵胃咝У胤治鲦I合絲連接失效通常發生的鍵合點的頸縮部位斷裂原因。
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