本發明涉及一種芯片失效定位方法,其步驟如下:首先,確定失效的電性測試項目;其次,在MCU中編輯相應的代碼;最后,通過MCU發送相應的信號模式至待分析的芯片。本發明所述芯片失效定位的方法,不但簡單,而且速度更快,用戶操作時的準確度和速度都大大提高,由于利用MCU作為信號發生器,所以可以發送任意所需信號,模擬芯片工作時的各個狀態,從而可以測試分析芯片的任意失效項目。
聲明:
“芯片失效定位的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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