本發明提供了一種磁盤失效預測方法、預測模型訓練方法、電子設備,該磁盤失效預測方法包括:獲取待預測磁盤的預測數據集,所述預測數據集包括預測樣本IO的IO信息和與所述預測樣本IO相對應的SMART信息,其中,所述預測數據集采集于所述待預測磁盤的緩存盤加速場景;將所述預測數據集輸入至預先訓練好的預測模型,得出所述待預測磁盤的預測結果。根據本發明實施例提供的方案,能夠結合IO信息和SMART信息,對所有類型的磁盤進行磁盤失效預測,有效降低了數據丟失的風險。
聲明:
“磁盤失效預測方法、預測模型訓練方法、電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)