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            > 測試失效原因分類方法和系統、電子設備、存儲介質

            測試失效原因分類方法和系統、電子設備、存儲介質

            1145   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:59:33
            本發明提供一種測試失效原因分類方法和系統、電子設備、存儲介質,可應用于人工智能領域、區塊鏈領域、分布式領域、云計算領域、大數據領域、物聯網領域、移動互聯領域、網絡安全領域、芯片領域、虛擬現實領域、增強現實領域、全息技術領域、量子計算領域、量子通信領域、量子測量領域、數字孿生領域或金融領域。該方法包括:獲取測試失效的分析信息;對測試失效的分析信息,進行文本分詞,得到失效分詞信息;對失效分詞信息計算特征向量權值;依據特征向量權值輸入至原因分類模型進行分類,得到分析信息對應的失敗原因;實現測試的失效原因進行自動分類,便于后續的處理和查詢。
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            “測試失效原因分類方法和系統、電子設備、存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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            失效分析
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