本發明屬無損檢測領域,涉及一種射線追蹤式超聲Lamb波缺陷層析成像方法;先將待測材料成像區域劃分為多個小網格,并在此區域兩側設置相同數量的發射EMAT和接收EMAT。然后令所有發射端激發A0模態Lamb波,對側所有接收端同時接收。對全部檢測波形的分析結果提取并記錄相應走時,再使用聯合迭代重建算法確定每個網格的慢度及缺陷分布,將得到的缺陷分布作為已知條件,建立RT外推公式,利用外推法逐步對射線路徑進行追蹤并加以修正,如此反復多次,直至通過計算獲得較高的成像精度。本發明避免了基于直射線理論的傳統TOF跨孔層析成像方法成像精度低的問題,計算準確、高效、快速,為提高缺陷成像精度提供重要依據,具有廣闊的應用前景。
聲明:
“射線追蹤式超聲Lamb波缺陷層析成像方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)