本發明公開了一種測量DKDP晶體氘含量均勻性的方法。本發明利用ν1模拉曼頻移作為表征DKDP晶體氘含量的參量,通過顯微共聚焦拉曼光譜測量系統測量DKDP晶體不同位置ν1模的拉曼頻移獲得該晶體氘含量的空間分布,進而可以對其氘含量均勻性進行評估,該測量方法操作簡便,降低了儀器測量誤差、DKDP晶體表面氘含量衰減、數據處理誤差及周圍環境等因素的影響,實現了DKDP晶體氘含量均勻性的在線無損測量。
聲明:
“測量DKDP晶體氘含量均勻性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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