本發明提供一種基于微納熒光顆粒的薄膜熱導率測量方法,所述測量方法包括:提供微納熒光顆粒,加熱所述微納熒光顆粒,通過測量所述微納熒光顆粒PL譜(光致發光光譜)特征峰位移與溫度變化的關系,確定溫度系數;將待測薄膜置于襯底上,并在所述待測薄膜表面放置吸收熱源和所述微納熒光顆粒,微納熒光顆粒作為溫度傳感器;利用激光照射所述待測薄膜,通過測量所述微納熒光顆粒的PL譜特征峰位移與激光功率變化的關系,確定關系斜率;最后結合所述吸收熱源的光功率吸收系數以及所述待測薄膜的形狀特征參數,實現薄膜熱導率的測量。利用本發明的測量方法可以實現對微納米薄膜熱導率的無損、便捷、可靠測量。
聲明:
“基于微納熒光顆粒的薄膜熱導率測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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