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            太赫茲頻段RCS測量用支架材料的選取方法

            1205   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:58:32
            公開了一種太赫茲頻段RCS測量用支架材料的選取方法,包括:選取M種泡沫材料作為測試樣品;對于選取的每種泡沫材料,通過太赫茲時域光譜測量系統測量未放置測試樣品時的時域光譜Er, i(t)、以及放置測試樣品時的時域光譜Es, i(t);對Er, i(t)、Es, i(t)進行傅里葉變換,以獲取頻域光譜Er, i(w)、Es, i(w);然后,根據Er, i(w)、Es, i(w)、以及泡沫材料的厚度di,計算該泡沫材料的折射率譜ni(w);對于選取的每種泡沫材料,計算其折射率譜的折射率均值以及的值,并且,將取最小值的泡沫材料作為太赫茲頻段RCS測量用支架材料。本發明通過太赫茲時域光譜技術,便于快速、無損的分析材料的電磁散射特性,進而在樣品中迅速找到適用于太赫茲頻段RCS測量的支架材料。
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