本發明涉及化學檢測領域,尤其涉及一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法;本發明通過對表面鍍膜金片進行脫膜前處理,再利用X射線熒光光譜法進行金含量檢測;其中脫膜前處理溶膠步驟只針對膜上的膠體反應,對金層無反應,不僅能夠快速便捷的將膜與金層分離,且能較大程度的保持金層的完整;脫膜的金片可以便捷進行X射線熒光光譜檢測,解決了覆膜帶來的測試結果失真問題,而且能準確的測出金質量,均很好的滿足了快速、準確、無損耗的檢測要求。
聲明:
“表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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