本發明涉及LQFP封裝級芯片的充電器件模型抗靜電測試機臺,涉及半導體集成電路制造技術,通過在測試板上同時設置多個LQFP封裝芯片插座,每個插座的插槽內供一個LQFP封裝芯片插座置于其中,則可使一個測試板上同時承載多個LQFP封裝芯片插座,而在充電器件模型抗靜電測試時節省測試時間,另通過使每個LQFP封裝芯片插座包括芯片插槽和環繞插槽而形成的插槽側壁,可使將LQFP封裝芯片置于芯片插槽內時,芯片的引腳從芯片的本體伸出并承載于插槽側壁的第一面上以支撐芯片的引腳,而在測試過程中對芯片的引腳提供支撐,也即LQFP封裝芯片的引腳不再懸空,從而在測試過程中保證準確無損的抗靜電性能測試和后續功能性及參數測試,提高芯片級測試的準確度和測試效率。
聲明:
“充電器件模型抗靜電測試機臺及應用于其的測試板” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)