本發明公開了一種微波階躍熱成像檢測和層析成像方法及系統。系統由控制模塊、微波產生裝置、熱像儀、計算機及多個算法模塊等組成。采用微波對被檢對象進行加熱,采用熱像儀記錄被檢對象表面的瞬態溫度信號。求出瞬態溫度信號的二階導數,提取峰值時間作為特征值;把無缺陷區域的瞬態溫度信號作為參考信號,把被檢區域的瞬態溫度信號與參考信號進行差分得到瞬態差分信號,提取分離時間和最大值時間作為特征值;采用特征值進行成像,判斷是否存在缺陷;通過理論分析與試驗,建立特征值與深度的定量關系,對未知缺陷的深度進行定量;利用不同時間范圍的溫度上升率,實現不同深度范圍的層析成像。該發明可應用于無損檢測、醫學成像和目標探測等領域。
聲明:
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