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            低相干動態光散射粒度檢測方法

            820   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:58:19
            本發明公開了一種低相干動態光散射粒度檢測方法,其步驟如下:(1)用寬帶光源3(SLD)和光纖型邁克爾遜干涉儀組成低相干干涉系統;(2)用高靈敏探測器及聚焦入射系統,探測到高信噪比的散射光強度譜;利用正弦波相位調制技術,對散射光的干涉信號進行有效采集;(3)對濃厚溶液中傳播的光進行光路長選擇性檢測從而確定單散射領域;(4)對探測到的單散射光的光譜進行處理,利用有效的算法解析測量結果,得到高精度的粒徑及粒徑分布。本發明是一種能對濃厚溶液中的納米顆粒特性實行無接觸、無損傷的實時、快速的在線檢測的低相干動態光散射粒度檢測方法。
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            “低相干動態光散射粒度檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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