本發明屬于無損檢測技術領域,公開了一種磁致伸縮導波單向檢測方法,包括:(1)獲得被測構件的頻散曲線;(2)設定激勵頻率和激勵次數;(3)確定導波波長;(4)設定激勵信號的初相位為0,以設定的激勵頻率同時進行第一次導波激勵和導波檢測,激勵次數減1;(5)將激勵傳感器沿一個方向移動四分之一導波波長,并將激勵信號的初相位改變π/2,再次同時進行導波激勵和導波檢測,激勵次數減1;(6)重復步驟(5)的操作,直至檢測次數為0;(7)將多次檢測到的導波信號進行疊加。本發明實現了在構件中磁致伸縮導波的單方向激勵和接收,同時克服了導波波長較小時對激勵傳感器的尺寸帶來的限制。
聲明:
“磁致伸縮導波單向檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)