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            基于光子傳輸模擬的蘋果高光譜品質檢測方法

            742   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:58:16
            本發明公開了一種基于光子傳輸模擬的蘋果高光譜品質檢測方法。本發明分析了光子入射最佳位置和源探距離,并用點光源高光譜儀實際拍攝紅富士蘋果進行驗證。分析表明,光子在蘋果赤道位置入射,具有73.12%概率到達更深的深度。源探位置與蘋果的光學參數有關,形狀為圓環,其源探內外徑位置半徑為1.5mm?10.15mm。點光源高光譜儀采集的紅富士蘋果入射位置為赤道,源探位置為半徑為3.6mm?10.8mm的圓環,與模擬數據分析結果基本一致。蒙特卡洛光子傳輸模擬方法為研究高光譜蘋果品質無損檢測開辟了新思路,分析結果可以為研究高光譜品質檢測實驗設計和蘋果便攜式品質檢測光學儀器設計提供理論基礎。
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            “基于光子傳輸模擬的蘋果高光譜品質檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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