本發明公開了一種并聯芯片溫度均勻性檢測方法及裝置,該檢測方法包括如下步驟:將工作狀態下的待測模塊置于多個預設溫度中,計算多個預設溫度下待測模塊的關斷時間和關斷延遲時間,待測模塊包括并聯的多個芯片;根據多個預設溫度下的關斷時間和關斷延遲時間計算得到關斷時間曲線和關斷延遲時間曲線;將待測模塊置于工作環境下,計算待測模塊的關斷時間測量值和關斷延遲時間測量值;根據關斷延遲時間測量值、關斷時間曲線及關斷延遲時間曲線計算得到關斷時間計算值;根據關斷時間測量值和關斷時間計算值判斷待測模塊的溫度均勻性。通過實施本發明,可以實現溫度均勻性的無損檢測,同時測量裝置和測量方法簡單,易操作。
聲明:
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